電磁誘導探査解析事例

渦流探査法

電磁誘導探査法は渦流探査法とも呼ばれ、電磁誘導の原理を応用したものです。
励磁用コイルに交流磁場を発生させ、渦電流の変化を検出用コイルで検知し、異種の物質の有無を探査します。
今回は磁界解析ソフトウェア F-MAG でこの探査シミュレーションを行ってみました。

交番磁界中に金属などの導電性の物体を置くと、電磁誘導によってその表面付近に渦電流が生じます。
渦電流はこの相互誘導起電力に影響を与えます。
この渦電流は金属材料の透磁率や電気伝導率、そして金属の表面状態により影響を受けます。
したがって、このプロセスにより、金属内部に含まれる異なる種類の物質を検知することができます。
また、表皮効果により、この渦電流の量はコイルに近い表面で最大になり、コイル化から離れる金属の内部ほど指数関数的に減少します。
したがって、表面からは発見しにくい内部の物質の有無を検知することができます。
下図は相互誘導方式の一例です。
外側の励磁用コイルと検出用コイル２個で構成されています。
今回はこれらのコイルを用いて、相互誘導方式による渦流探査解析を行ないました。